1. Beam Effects, Surface Topography, and Depth Profiling in Surface Analysis
المؤلف: / Edited by Alvin W. Czanderna, Theodore E. Madey and cedric J. POwell
المکتبة: المكتبة المركزية ومركز الوثائق بجامعة آراك (مرکزي)
موضوع: Surfaces(Technology)-- Analysis,Materials-- Effect of radiation on
رده :
620
.
44
B366
2. Beam effects, surface topography, and depht profiling in surface analysis
المؤلف: edited by Avin W. Czanderna, Theodore E. Madey and Cedric J. Powell
المکتبة: (طهران)
موضوع: Surfaces )Technology( - Analysis , Materials - Effect of radiation on
رده :
TA
418
.
7
.
B43
1998
3. Chemistry and Physics of Solid Surfaces VI
المؤلف: edited by Ralf Vanselow, Russell Howe.
المکتبة: کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان های اروپایی (قم)
موضوع: Physical organic chemistry.,Surfaces (Physics)
4. Laser processing and chemistry
المؤلف: Dieter Bäuerle.
المکتبة: کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان های اروپایی (قم)
موضوع: Lasers -- Industrial applications.,Materials -- Effect of radiation on.,Surfaces (Technology) -- Effect of radiation on.
رده :
TA1677
.
D548
1996
5. Principles of sustainable energy systems /
المؤلف: Charles F. Kutscher, Jana B. Milford, Frank Kreith.
المکتبة: کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان های اروپایی (قم)
موضوع: Renewable energy sources.,BUSINESS & ECONOMICS / Real Estate / General.,Renewable energy sources.
رده :
TJ808
.
P75
2019
6. Secondary Ion Mass Spectrometry SIMS IV :
المؤلف: Vitalii I Goldanskii
المکتبة: کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان های اروپایی (قم)
موضوع:
7. Solid-State Physics :
المؤلف: by Harald Ibach, Hans Lüth.
المکتبة: کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان های اروپایی (قم)
موضوع: Chemistry.,Electronics.,Physics.
8. Total-reflection X-ray fluorescence analysis and related methods
المؤلف:
المکتبة: کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان های اروپایی (قم)
موضوع: Fluorescence spectroscopy.,X-ray spectroscopy.
رده :
QD96
.
X2
